FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進行金屬物料分析。

二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。